Patentanalyse

Mit der Patentanalyse im PatentExplorer können Sie:

• Patentinformationen konsolidieren, um sie zu analysieren,
• Patentinformationen extrahieren und so Schlüsselinformation von verschiedenen Patentanmeldern aufdecken,
• Märkte für bestimmte Technologien aus Sicht von Mitbewerbern aufdecken,
• Mitbewerberaktivitäten monitoren.

Die Analyse-Module sind nahtlos im PatentExplorer integriert und bestimmte Standardanalysen sind bereits vorbereitet.

Einfache und mehrfache Ebenen der Analyse

Mit der Patentanalyse können Sie eine einfache Analyse auf die Hauptpatent-Bereiche wie IPC, Anmelder, Erfinder oder Veröffentlichungsdatum anwenden. Mit Hilfe der Kombination von verschiedenen relevanten Bereichen, die Ihnen strategische Informationen liefern, ist zudem eine tiefer gehende Analyse möglich.

Bergriffsnetz

Das Begriffsnetz ist eine Funktion, um Schlüsselwörter, die mit Ihrem Suchbegriff verwandt sind in verschiedenen Ebenen aufzudecken und somit Texte aus Patentschriften aufzuschlüsseln. Hilfreich ist dies vor allem bei der Analyse von unterschiedlichen verwendeten Begriffswelten z.B. zur Eingrenzung eines Suchraumes auf ein bestimmtes Technologiefeld.

Zudem bietet Ihnen diese Funktion eine Visualisierung, in denen Patentdokumente begrifflich gruppiert sind und so einfach gefiltert werden. Darüber hinaus dient das Begriffnetz dem Finden nützlicher Schlüsselwörter, um Ihre Suchstrategie zu verbessern.

 Grafische Visualisierung

Die grafische Visualisierung ermöglicht Ihnen eine aufschlussreiche Darstellung von Analyse-Ergebnissen durch eine Vielzahl von anpassbaren 2D/3D-Diagrammen. Um Ihnen die Flexibilität für die weiteren Analysen zu geben, sind alle Teile der strategischen Analyse-Charts als IPC/Anmelder-Analyse aktiv aufgeblättert.
Diese einzigartige Schnittstelle führt den Anwender mit Leichtigkeit weiter in die Tiefe der Analyse.